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krohne雷达液位计参数设置

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目前,村镇污水治理纳入了环境污染的重要版图之一。
而德国公司在该领域深耕多年,针对水和废水行业专门开发了两款的雷达料位计和,主要不同之处在于量程。
图为针对(废)水处理行业的产品展示李强先生表示,的优势是从整个的水和污水的处理厂,从液位测量到固体测量,以及连续测量,或者是料位开关,可以提供一个完整的解决方案。将为入驻氢能企业提供研发孵化生产检测认证等一站式服务
作为一场跨国跨学科的科学探索工程,人工智能之火势必会燃烧到制造业。
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传统用户的测量方式,大家习惯采用超声波的方式,相对于雷达来讲,容易受到介质温度、泡沫、冷凝水等的影响,但雷达液位计对这些影响完全可以克服。
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危险区域:FM/CSA/ATEX
过程温度:-150°C~+400°C
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测量难点: 1. 非满管,不一定是标准管道,可以是矩形管等 2. 水中杂质多,甚至塑料袋、木块、泥沙等 3. 管道、渠道内环境恶劣,气味、甚至是沼气含0成分 4. 安装点没有电源,数据信号传输困难 5. 维护困难 解决方案 1. 底部多谱勒超声波流量计,顶部超声波或雷达液位计。 2. 超声波流量计集成热式或电磁流速仪,双模式、三模式工作,可靠性高。 3. 安装时即设置清洗管路,人员在管道外清洗维护 4. 太阳能供电、GPRS数据无线传输 5. 传感器自我诊断,异常数据报告,信息日志。 6. 专业的维护队伍,快速现场服务贵阳底座式ADCP多少钱
多普勒效应是为纪念奥地利物理学家及数学家克里斯琴·多普勒(ChristianDoppler)而命名的,他于1842年首先提出了这一理论,主要内容为:物体辐射的波长因为波源和观测者的相对运动而产生变化。在运动的波源前面,波被压缩,波长变得较短,频率变得较高;在运动的波源后面时,会产生相反的效应。波长变得较长,频率变得较低;波源的速度越高,所产生的效应越大。根据波移的程度,可以计算出波源循着观测方向运动的速度。Fshift/n:频率改变量(Hz) Fsource:发射的超声波频率(Hz) C:声速(m/s) V:反射面的水流速度(m/s) Vh:ADCP所在水层的平均流速(m/s) Vc:河道平均流速(m/s) H1:河水距离剖面仪的高度(m) D1:分层的层间距(m) W1:河水的宽度(m) S:河道断面面积 Q:河道的总流量(m3/s)
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雷达液位计(物位计)如果按发射雷达波的频率分,可分为高频雷达和低频雷达。在润中仪表科技的雷达液位计(物位计)的产品系列中,RZRD1000A为频率为26GHz的产品,RZRD1000B为低频6GHz的产品是。高频雷达发射的都是超过20GHz以上的高频微波,根据波的特性:速度=波长*频率,我们可以得知24GHz高频的微波的波长较其他频段的雷达波的波长要短的多。一般的讲,固体料面的形状是倾斜而且粗糙的,较小的波长可以大程度上保证发射出去的雷达波能够在粗糙的固体表面大程度地被反射回雷达探头。因而高频雷达主要应用于固体介质和大量程场合的测量。低频雷达发射微波频率在100MHZ~6MHZ,主要应用于液体介质和小量程场合的测量。我们发现在企业的实际采购中,高频的雷达液位计越来越受到青睐,毫无疑问,高频的产品较之低频的产品确实是有优势的,细细分析一下其中的原因,有以下几点:
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对于有些安装位置无法避免的干扰波如图2b的干扰波,还可利用VEGAPULS 雷达液位计识别虚假波的功能,液位计能根据实际液位标识出干扰反射波,并存于雷达液位计的内部数据库,使雷达液位计在数据处理时能识别这些干扰波,去除这些干扰反射波的影响,保证测量的准确性。
4. 雷达液位计的维护
雷达液位计主要由电子元件和天线构成,无可动部件,在使用中的故障极少。使用中偶尔遇到的问题是,贮槽中有些易挥发的有机物会在雷达液位计的喇叭口或天线上结晶,对它们只要定期检查和清理即可,维护量少。
在日常维护中,可以用PC机(装有VEGAVisual Operating软件)远程观察反射波曲线图,对于后来可能新产生的干扰波,可以利用液位计有识别虚假波的功能,除去这些干扰反射波的影响,保证准确测量
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超声波液位计和雷达液位计主要区别
声波是机械波,遇到大的密度(气-液-固)变化界面发生反射,传播依靠介质,温度、压力对测量。
影响大,要引入温度补偿。一般不适用高温或带压力测量。首先,超声波物位计有温度限制,一般探头处温度不能超过80度,并且声波速度受温度影响很大。其次,超声波物位计受压力影响很大,一般有求0.3MPa以内,因为超声波是通过压电物质的振动来发射的,压力太大时发声部件会受影响。第三,当测量环境中雾气或粉尘很大时将不能很好的测量。
雷达探头发出高频脉冲并沿缆绳传播,当脉冲遇到物料表面时反射回来被仪表内的接收器接收,并将距离信号转化为物位信号。以电磁波为检测信号,在介电常数发生变化的界面发生反射,电磁波可在真空中传播,基本不受温度、压力变化影响,所以可用于高温、高压场合。不适合用于极低介电常数介质的测量。
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